【金猿产品展】数之联自动图像缺陷检测系统：数联智造 智造未来

数之联自动图像缺陷检测系统（ADC）是针对电子信息制造领域推出的基于深度学习的缺陷自动检测与关联分析系统，可降低人力成本、提升检测效率与产品良率，助力企业实现智能制造。具体介绍如下：

• 产品背景

  制造业工序复杂，传统缺陷检测依赖人工，存在效率低、反馈不及时、漏检误判等问题。数之联ADC系统旨在解决这些问题，实现电子信息类产品的缺陷自动检测与关联分析。

• 应用场景与人群

  应用场景：主要应用于电子信息产品的生产制造过程，如半导体、液晶面板等。

  目标人群：电子信息制造企业，解决其在产品缺陷检测环节的技术、人力和产品良率整合性问题。

  推广策略：先在部分标杆企业部署，再向同领域和其他领域推广，实现单点覆盖和推广。针对不同领域需求进行二次开发，实现多领域应用覆盖。同时加强市场推广，扩大平台影响力。

• 产品功能

  缺陷自动检测与分类：通过获取图像数据，利用图像检测和识别技术快速完成产品缺陷的自动检测和分类。

  智慧化建模：通过深度学习卷积神经网络实现产品缺陷检测智慧化建模，不断学习和更新缺陷类型，实现数据快速查询、呈现及异常自动发现。

  根因分析：通过数据预处理和建立根因分析算法模型，挖掘顽固性不良发生模式，关联分析产品不良缺陷和生产参数相关性，辅助参数调整，提升产品良率。

• 产品优势

  缺陷自动检测与分类：实现缺陷位置自动定位及缺陷Code分类，汇总分析缺陷问题，代替传统人工判定方式，节省人力成本并有效监控产品质量。

  缺陷关联分析优化：自动清洗、整合和分析电子信息制造数据，分析缺陷和生产要素相关性，实现设备路径分析及多因素组合性分析，缩短缺陷定位时间，提升产品良率。

  一体化系统：实时检测产品缺陷，快速分析并形成结果汇总报告，实现产品缺陷快速定位和生产过程参数优化，提高产品质量。

• 服务客户与使用人数

  已服务面板制造领域标杆企业10余家，包括厦门天马、武汉天马、华星光电、重庆奥特斯、维信诺等。

  根据在厦门天马、武汉天马、京东方的实施情况，降低生产企业近80%的产品缺陷检测人力成本，为客户带来间接经济效益数亿元。

• 市场价值

  是数之联在工业领域的拳头产品，是电子信息产品智能制造领域的战略布局产品之一。

  已应用于面板制造缺陷检测及关联分析优化，随着国内面板产量的增长，未来面板缺陷检测及良率提升的需求和市场将快速增长。

  在电路、半导体等行业领域有巨大的市场发展空间。

• 所属企业概况

  企业简介：数之联成立于2012年10月，致力于成为集数据、算法、应用为一体的大数据产业生态构建者。

  技术实力：拥有18年数据挖掘和深度机器学习经验，100余项自主发明专利及软件著作权、300余篇相关论文，积累超过100个机器学习算法，适配到Spark、Storm等分布式计算框架。在图像处理领域积累大量基于图像的深度学习算法。

  企业荣誉：2015年被评为国家高新技术企业，获批四川省、成都市顶尖创新创业团队；2016年荣获中国大数据行业最具成长力企业奖；入选2017年中国大数据产业应用十大卓越企业等。

  业务方向：以大数据价值发现与创新平台为基础，专注大数据领域算法分析和应用创新，拓展行业重点聚焦在政府智慧监管、工业和军工3个方向。

  工业领域经验：在工业领域积累深厚技术经验及业务经验，形成典型性问题解决方案，拥有较强自主创新能力，获得客户高度评价及认可。已申请工业领域大数据分析相关专利8项和登记软件著作权11项。

  项目成果：缺陷检测技术已服务多家面板制造领域标杆企业，大数据和人工智能优化生产过程缺陷管理水平荣获2018中国大数据应用最佳实践案例。

  项目负责人：方育柯博士，公司智慧工业事业部负责人，主要从事计算机科学与大数据等交叉领域研究工作，在机器学习、集成学习、深度学习和图像处理等领域具有丰富研究经验和一定国际影响力。

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